lcr數(shù)字電橋測(cè)試儀規(guī)格及相關(guān)使用方法說(shuō)明

LCR電橋測(cè)試儀是能夠測(cè)量電感、電容、電阻、阻抗的儀器，也叫LCR數(shù)字電橋、LCR測(cè)試儀、LCR電橋、LCR表、LCRMeter等。lcr測(cè)試儀以微處理器控制的數(shù)字式測(cè)量各種無(wú)源阻抗參量，因其測(cè)試速度快、讀數(shù)方便、功能多、頻率范圍寬、測(cè)量范圍大、穩(wěn)定性和準(zhǔn)確度較高、易于實(shí)現(xiàn)程控等眾多優(yōu)點(diǎn)己廣泛應(yīng)用于計(jì)量測(cè)試、科研單位測(cè)量各類電子元器件的阻抗特性和篩選、元器件生產(chǎn)及維修制作等領(lǐng)域。

lcr測(cè)試儀品牌型號(hào)繁多，有手持式LCR電橋測(cè)試儀也有臺(tái)式lcr測(cè)試儀，且絕大部分為多參數(shù)、多功能的測(cè)量?jī)x，操作方法各異，為使其發(fā)揮多種測(cè)量功能并保證測(cè)量的準(zhǔn)確性，應(yīng)正確設(shè)定測(cè)量參數(shù)。以下是深圳市格信達(dá)科技有限公司整理的關(guān)于lcr電橋使用方法的相關(guān)問(wèn)題。

對(duì)于一個(gè)已知的電容該選用什么樣的測(cè)試條件？ 

(1)小于100pF電容用1MHZ頻率測(cè)量，中等容量如(1000pF-10uF)用1KHZ，10KHZ，100KHZ，國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試中等電容的測(cè)試頻率標(biāo)準(zhǔn)是1KHZ。電解類如鋁電解，鉭電解等用100HZ或120HZ。 

(2)從電平的角度說(shuō)大部分電容對(duì)電平不敏感，不同電平測(cè)試變化不大，但有些介電常數(shù)大的電容與電平非常敏感，應(yīng)仔細(xì)選擇電平。 

(3)各種電容的常規(guī)測(cè)試頻率，電解電容是(100HZ.120HZ)，薄膜電容一般可以是(1KHZ-100KHZ)。

關(guān)于LCR數(shù)字電橋測(cè)量準(zhǔn)確度的問(wèn)題 

測(cè)量準(zhǔn)確度是反映儀器性能的主要指標(biāo)之一，確切了解所需儀器的準(zhǔn)確度是準(zhǔn)確評(píng)價(jià)元件優(yōu)劣的關(guān)鍵。一般地，儀器準(zhǔn)確度應(yīng)比測(cè)量元件的技術(shù)指標(biāo)高3—5倍。更為重要的是，通常儀器樣本或其它宣傳資料給出的是在某種條件下的最高準(zhǔn)確度，這是最能產(chǎn)生混淆之處，應(yīng)了解被測(cè)量元件在測(cè)量頻率下呈現(xiàn)的阻抗及對(duì)應(yīng)測(cè)量條件下的儀器準(zhǔn)確度是否滿足測(cè)量要求。充分了解儀器的測(cè)量準(zhǔn)確度是極為重要的，而且準(zhǔn)確度與所給定的測(cè)試條件密切相關(guān)，如電平、速度、溫度等。

輸出阻抗/儀器內(nèi)阻不同對(duì)測(cè)試結(jié)果有什么影響

(1)儀器輸出阻抗不同導(dǎo)致被測(cè)器件上信號(hào)不同，最終會(huì)導(dǎo)致顯示參數(shù)的不同。內(nèi)阻對(duì)測(cè)試的影響主要是測(cè)試電感，一般如果搞不清就用100歐姆內(nèi)阻。

 (2)測(cè)試時(shí)信號(hào)其實(shí)是被測(cè)件與儀器內(nèi)阻(輸出阻抗)串聯(lián)在一起，會(huì)對(duì)信號(hào)產(chǎn)生分壓作用。因此低阻抗測(cè)試實(shí)際加到器件上的電平小于設(shè)定電平。早先的電橋內(nèi)阻是量程自動(dòng)變化的，目前LCR內(nèi)阻一旦選定就不變化，有的儀器有30?和100?的內(nèi)阻選擇。

信號(hào)源輸出阻抗如何選擇

傳統(tǒng)LCR電橋的信號(hào)源阻抗隨著量程的變化而變化的，這樣不同的元件測(cè)量時(shí)的實(shí)際電平變化極大，這對(duì)某些器件的測(cè)量是不合理的。國(guó)際先進(jìn)及認(rèn)可的輸出阻抗方法為100?如Agilent4284A、Agilent4980A、Agilent 4263B等。為兼顧與傳統(tǒng)儀器的一致性，部分lcr測(cè)試儀產(chǎn)品可由用戶鍵盤選擇輸出阻抗。

使用lcr電橋測(cè)試時(shí)施加于被測(cè)件的電平是十分重要的，實(shí)際施加于被測(cè)件上的電平（電壓或電流）與儀器信號(hào)源阻抗有關(guān)，雖然儀器電平相同，若信號(hào)源阻抗不同，實(shí)際施加于被測(cè)件上的電平就不同。lcr測(cè)試儀器配上專用SMD測(cè)試夾具就可以測(cè)貼片元件，分為兩端測(cè)試和四端測(cè)試。一般LCR數(shù)字電橋出廠時(shí)進(jìn)行的1米長(zhǎng)度測(cè)試線校準(zhǔn)，如果超過(guò)1米，需要重新校準(zhǔn)。