Agilent安捷倫4263B LCR數(shù)字電橋?qū)ｉT用于對(duì)生產(chǎn)線元件進(jìn)行評(píng)估，以及對(duì)臺(tái)式應(yīng)用進(jìn)行基本阻抗測(cè)試，還可以利用選件方便地進(jìn)行變壓器測(cè)量。安捷倫4263B LCR測(cè)試儀已停產(chǎn)，尚提供支持。
LCR測(cè)試儀/電橋表品牌：是德科技 安捷倫Agilent
測(cè)量參數(shù)：Z，Y，U，R，X，G，B，L，C，D，Q
ESR-4263B-001選件：增加DCR（直流電阻），匝數(shù)比（N），互感（M）
Agilent 4263B基本測(cè)量精度：0.1%
5種測(cè)試頻率：100 Hz、120 Hz、1 kHz、10 kHz、100 kHz
交流測(cè)試信號(hào)電平：20 mV至1 Vrms，以5mVrms步進(jìn)，用以評(píng)估電壓特性
內(nèi)部直流偏置：電平1.5V和2V，外部直流偏置：0V至2.5V
測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)測(cè)功能：可監(jiān)測(cè)電壓和電流，當(dāng)充電電容器連接到輸入端時(shí)內(nèi)部電路起保護(hù)作用
Agilent 4263B lcr表測(cè)量速度：最快25 ms，提高測(cè)試效率
接觸檢查功能：可檢測(cè)測(cè)試夾具與器件之間的接觸故障，接觸檢查的附加時(shí)間為5ms
Keysight 4263B LCR表高效的電解電容器測(cè)試，可通過GPIB接口控制儀器
agilent 4263b 說明書下載地址
http://m.iamabigfatstupidface.com/download/201412/20141228125956_921.pdf
| 測(cè)量參數(shù) | |Z|,|Y|,θ,R,X,G,B,L,C,Q,D,ESR | |
| 選件001 | 增加DCR（直流電阻），N（匝數(shù)比）和M（互感）測(cè)量 | |
| 測(cè)量電路形式 | 串聯(lián)和并聯(lián) | |
| 數(shù)學(xué)功能 | 偏差和百分偏差 | |
| 測(cè)試電纜長度 | 0m,1m,2m,4m,(頻率=100/120/1kHz);0m,1m,2m(頻率=10kHz/20kHz);0m,1m(頻率=100kHz) | |
| 測(cè)試頻率 | 100Hz,120Hz,1kHz,10kHz和100kHz | |
| 選件002 | 增加20kHz測(cè)試頻率 | |
| 頻率精度 | ±0.01%（頻率=100Hz,1kHz,10kHz,20kHz,100kHz),±(10%+10mV) | |
| 輸出阻抗 | 100Ω±10%,25Ω±10%(≤1Ω量程） | |
| 交流測(cè)試信號(hào)電平 | 20mV~1Vrms,以5mVrms分檔 | |
| 精度 | ±（10%+10mV) | |
| 電平 | 1.5和2V；精度：±（5%+2mV) | |
| 外部直流偏置 | 0~+2.5V | |
| 測(cè)量范圍 | 參數(shù) | 測(cè)量范圍 |
| |Z|,R,X | 1mΩ-100MΩ | |
| |Y|,G,B | 10nS-1000S | |
| C | 1pF-1F | |
| L | 10nH-100kH | |
| D | 0.0001-9.9999 | |
| Q | 0.1-9999.9 | |
| θ | -180°~+180° | |
| DCR | 1mΩ-100MΩ | |
| N | 0.9-200（待定） | |
| L,M | 1μH-100H（待定） | |
| Δ% | -999.99%-+999.99% | |
| 測(cè)量精度： | ±0.1%(基本精度）（適用于|Z|,R,X,|Y|,G,B,CL) | |
| 測(cè)量時(shí)間 | ||
| 模式 | 時(shí)間（典型值） | |
| 短 | 25ms | |
| 中等 | 65ms | |
| 長 | 500ms | |
| 測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)視器： | 電壓和電流 | |
| 前端保護(hù)： |
當(dāng)充電電容器連接到輸入端時(shí)內(nèi)部電路便函起保護(hù)作用。最大電容器電壓為；在 Vmax≤250V時(shí)，Vmax=√(8/C)(典型值）；在Vmax≤1000V時(shí)，Vmax=√(2/C)(典型值），C單位為F。 |
|
| 顯示數(shù)字： | 安捷倫4263b數(shù)字電橋3，4或5位（可選擇） | |
| 開路/短路誤差為0： | 消除由測(cè)量夾具中雜散寄生阻抗引起的測(cè)量誤差 | |
| 負(fù)載： | 利用一個(gè)已校器件作為參考來改善測(cè)量的精度 | |
| 比較功能： | 對(duì)每個(gè)一次測(cè)量參數(shù)和二次測(cè)量參數(shù)給出高/符合/低（HEGH/IN/LOW）比較結(jié)果 | |
| 接觸檢查功能： | 可以檢測(cè)測(cè)試夾具與器件之間的接觸故障。接觸檢查的附加時(shí)間為5ms | |
| 存儲(chǔ)/調(diào)用： | 可以存儲(chǔ)和從內(nèi)部非易失存儲(chǔ)器調(diào)用10個(gè)儀器設(shè)置 | |
| 連續(xù)存儲(chǔ)功能： | 若儀器補(bǔ)關(guān)斷或出現(xiàn)電源故障。儀器設(shè)置（直流偏置接通/切斷除外）將自動(dòng)被存儲(chǔ)起來（在23°±5℃下≦72小時(shí)） | |
| GPIB接口 | 安捷倫4263b所有控制設(shè)置，被測(cè)值和比較器信息 | |
| 處理器接口 | 所有輸出信號(hào)均為負(fù)邏輯，光隔離的開路集電極。輸出信號(hào)包括HIGH/IN/LOW，不接觸，序號(hào)，測(cè)量結(jié)束和報(bào)警。輸入信號(hào)包括鍵鎖定和外觸發(fā) | |
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