美國International Light - 輻照度計 型號/圖片

美國International Light ILT800輻照計輸送帶式UV固化曝光能量計

International Light ILT800能量計以其215nm至475nm的寬光譜測量范圍覆蓋了各種測光需求，緊湊型一體化設計，特別適合用于測量每分鐘1~80英尺的傳送帶式曝光設備的曝光量，可應對紫外線固化設備中常見的極端環(huán)境條件。

美國ILT2400 UVGI-NB紫外輻照計254nm窄帶低劑量UVC殺菌光源檢測

國際光學International Light ILT2400-UVGI-NB輻照計經過專門配置，響應光譜249-259nm窄帶波段，用于測量驗證254nm紫外線低壓汞和其他可以使大多數病原體包括COVID-19病毒失活的窄帶UVC殺菌消毒光源，低劑量輻照度范圍0.4uW/cm2-4W/cm2，帶ISO17025認證的254 nm NIST可追溯校準報告證書，儀器便攜式帶大觸摸屏操作。

美國ILT2400紫外輻照計XSD340AT7探頭XIR395nm波長校準片

International Light ILT2400輻照計及XSD340AT7探頭響應范圍320-475nm、XIR395校準片用于精確測量395nm波長曝光強度等級和曝光時間，測量速度高達100μs，內置可充電電池持續(xù)長達8小時，4.3寸觸摸屏顯示，可橫向和縱向觀看，帶NIST可溯源ISO17025認證校準證書。

美國ILT2400輻照計SED033/QNDS2/W探頭太陽輻射測量100倍衰減濾光片

美國International Light ILT2400及SED033/QNDS2/W輻照度測量系統(tǒng)用于太陽和太陽模擬器輻射測量，探頭響應波長200-1100nm，傳感器安裝100倍衰減濾光片，讀數范圍6e-7 W/cm2~10W/cm2，帶美國NIST可溯源校準和證書。

International Light ILT2400輻照計XSD340AT7探頭405nm紫外線UV固化

美國ILT2400輻照計配合XSD340AT7探頭可用于測量320~475nm波段、中心波長405nm的輻照度，量程8e-6至60W/cm2，可用于高強度曝光機UV固化工藝測量，以及光阻劑測量、3D打印等監(jiān)測應用。

美國ILT2400輻照計SED005/UVF/A313探頭UV LED能量計350-400nm

International Light ILT2400輻照計及SED005/UVF/A313探頭專門為提高UV LED曝光機測量系統(tǒng)精確度而設計，在UV固化作用光譜350~400nm區(qū)域提供更均勻的響應，輻照度測量范圍0.05μW/cm2~800mW/cm2，可添加峰值波長的PIR校準過濾片，帶美國NIST可溯源ISO17025認證校準報告。

美國ILT2400+XSD005UVF UVLED輻照計350-410nm固化曝光測量

國際光學International Light ILT2400+XSD005UVF輻照計探頭具有平坦一致性的光譜曲線，該系統(tǒng)適用于監(jiān)測UV LED固化曝光能量強度及時間，在UV固化的關鍵區(qū)域350-410nm波長提供更均勻的響應，以手持式的價格提供研究級的質量。

美國ILT2400輻射計UV固化光刻紫外殺菌及3D打印曝光輻照度測量

International Light ILT2400輻射計支持多種光測量應用如UV紫外殺菌燈、激光/紅外線光、UV固化、掃描激光安全、3D打印、通用光測量等，測量速度達100μs，可切換lux,W/cm2, cd/m2測量單位，精度7%。

美國ILT2400紫外輻照計SED033/A/W探頭320-475nm紫外波長輻射照度計

美國International Light PCB印刷線路板曝光測量ILT2400輻照計與SED033/A/W探頭作用于320-475nm波長頻譜，帶有專門用于A波段的光刻膠過濾器及W擴散器，可測定2e-7至2 W/cm2輻照度，測光表和探測器均帶NIST可溯源ISO17025認證校準報告。

[停產]美國萬國光學ILT1400輻照計與XRL140B/XSL140B/XRL340A探頭

International Light ILT1400紫外線輻照計已停產升級為ILT2400型，原先配套用于紫外線殺菌、UV固化/光刻膠曝光測量的XRL140B、XSL140B、XRL340A等系列探頭也一起停產，需要要購買新的測光表和光探測器替代。