發(fā)布時間：2018年05月20日

美國ILT2400紫外輻照計SED033/A/W探頭320-475nm紫外波長輻射照度計

美國International Light PCB印刷線路板曝光測量ILT2400輻照計與SED033/A/W探頭作用于320-475nm波長頻譜，帶有專門用于A波段的光刻膠過濾器及W擴散器，可測定2e-7至2 W/cm2輻照度，測光表和探測器均帶NIST可溯源ISO17025認證校準報告。

紫外輻照計品牌：美國International Light

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SED033-A-W圖片

美國International Light SED033-A-W 紫外輻照計規(guī)格參數(shù)與圖片

Photoresist光刻膠曝光的加工設備通常非常緊湊并且沒有足夠的空間來進行輻照度測量。美國ILT公司致力于提供各種獨特的光刻膠專用儀器來實現(xiàn)這些困難的測量。International Light ILT2400輻照計具有采用可能換分離探頭設計，具有8個量級的動態(tài)測量范圍，測量速度可達100μs，內置可充電電池持續(xù)長達8小時，4.3寸觸摸屏顯示，可橫向和縱向觀看，以手持價格研究質量。SED033/A/W探頭帶有專為硅傳感器提供“A”波段響應（320-475 nm）的光刻膠過濾器，以及W固體石英內半球擴散器，量程范圍2e-7 至2 W/cm²。

ILT測光表是易于使??用的高性能儀器，非常適合用作光度計photometers (勒克斯lux meters)、強度計intensity meters (坎德拉candela)、固化測量儀/輻照度計/光量計curing meters (劑量和曝光測量dose and exposure meters)、能量功率計power meters (瓦或流明watts or lumens)和flash meters (Xenon or LED strobe lamps)?？梢杂嗁彶煌墓馓綔y器探頭、濾光片、光測量輸入元件和波長校準來獲得更精確的測量結果。

美國International Light PCB線路板曝光測量輻照計與探頭選型表

輻照計/探頭組合	響應波長頻譜	測量范圍	類型及應用
ILT5000, SED033/A/W	320-475 nm	2e-9 ~ 2 W/cm²	臺式，Photoresist光刻膠/光阻材料， PCB板曝光系統(tǒng)，UVA光源，UV-Vis光源
ILT2400, SED033/A/W	320-475 nm	2e-7 ~ 2 W/cm²	手持式，Photoresist光刻膠/光阻劑， PCB板曝光系統(tǒng)，UVA光源，UV-Vis光源
ILT1000/A/W	320-475 nm	2e-7 ~ 2 W/cm²	手持式，Photoresist光刻/光阻劑， PCB板曝光系統(tǒng)，UVA光源，UV-Vis光源
ILT1700, SED033/A/W	320-475 nm	7e-9 ~ 4 W/cm²	臺式，Photoresist光刻/光阻劑，同上
ILT2400, XSD140A	320-475 nm	4e-8 ~ 0.7 W/cm²	手持式，Photoresist光刻/光阻劑， PCB板曝光系統(tǒng)，UVA光源，UV-Vis光源
ILT2400, XSD340A	320-475 nm	8e-7 ~ 10 W/cm²	同上，大功率高強度輻照探頭
ILT5000, SED033/B/W	326-401 nm	3e-10 ~ 0.2 W/cm²	臺式，Photoresist光刻/光阻劑， PCB板曝光系統(tǒng)，UVA光源，UV-Vis光源
ILT2400, SED033/B/W	326-401 nm	2e-8 ~ 0.2 W/cm²	手持式，同上
ILT1700, SED033/B/W	326-401 nm	5e-9 ~ 0.5 W/cm²	臺式，同上
ILT1000/B/W	326-401 nm	2e-7 ~ 2 W/cm²	手持式，同上
ILT2400, XSD140B	326-401 nm	7e-8 ~ 1 W/cm²	手持式，Photoresist光刻/光阻劑， PCB板曝光系統(tǒng)，UVA光源，UV-Vis光源
ILT2400, XSD340B	326-401 nm	2e-6 ~ 30 W/cm²	手持式，Photoresist光刻膠/光阻劑，高強度測量
ILT2400, SSD001	260-400 nm	6e-6 ~ 0.9 W/cm²	手持式，超薄傳感器， PCB板曝光系統(tǒng)，UVA光源，UV-Vis光源