發(fā)布時(shí)間：2016年03月04日

德國(guó)EPK MiniTest 700系列EPK730高端涂鍍層測(cè)厚儀

EPK MiniTest 730涂層測(cè)厚儀具有創(chuàng)新的SIDSP探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)，提升了測(cè)量的精確性，測(cè)量范圍最高達(dá)15mm，精度1μm或5μm，分辨率0.05μm、0.1μm、1μm，可以解決您所有涂層厚度問(wèn)題。

鍍層/涂層測(cè)厚儀品牌：德國(guó)EPK

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EPK730說(shuō)明書(shū)

EPK730圖片

德國(guó)EPK EPK730 鍍層/涂層測(cè)厚儀規(guī)格參數(shù)與圖片

Elektrophysik德國(guó)EPK MiniTest 700系列涂層測(cè)厚儀可以讓您輕松變換測(cè)量需求。在對(duì)精度要求不高的條件下，您可以短時(shí)間測(cè)量大量數(shù)值，也可以只測(cè)量少數(shù)幾個(gè)數(shù)值，但要求精度很高，您只需選擇相應(yīng)的模式就可以做到。EPK730涂鍍層測(cè)厚儀創(chuàng)新的SIDSP（探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理）技術(shù)提升了測(cè)量的精確性，測(cè)量范圍達(dá)15mm，可更換F、N或FN探頭，供內(nèi)置或外接探頭使用，操作方便不易出錯(cuò)。

MINITEST 700 系列可以滿(mǎn)足您所有涂層測(cè)量需求：如果您想單手測(cè)量，可以選擇內(nèi)置探頭的EPK 720涂層測(cè)厚儀；EPK 730測(cè)厚儀則是外置探頭的；EPK740型號(hào)探頭內(nèi)置外置可換。所有型號(hào)都配有一個(gè)超大、背光的顯示屏，顯示內(nèi)容可以180度旋轉(zhuǎn)，方便您讀取數(shù)據(jù)。

EPK MINITEST 700高端涂層測(cè)厚儀優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)

SIDSP探頭技術(shù)使測(cè)量不受干擾，測(cè)值更加精確

可更換探頭使用更加靈活（MINITEST 740 探頭可由內(nèi)置換為外置）

FN 探頭自動(dòng)識(shí)別基體，使測(cè)量更迅速，避免操作錯(cuò)誤

溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤

生產(chǎn)過(guò)程中50 點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高精確度的特征曲線(xiàn)

大存儲(chǔ)量，能存儲(chǔ)10 或100 組多達(dá)100,000 個(gè)讀數(shù)

讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出，超大背光顯示屏，顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)

EPK730涂層測(cè)厚儀菜單指引操作，25 種語(yǔ)言可選

帶IrDA 接口，紅外線(xiàn)傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC，可下載更新軟件

MiniTest 700系列涂層測(cè)厚儀主機(jī)技術(shù)參數(shù)

主機(jī)型號(hào)	MiniTest 720涂層測(cè)厚儀	MiniTest 730測(cè)厚儀	MiniTest 740
探頭類(lèi)型	內(nèi)置探頭	外置探頭	探頭內(nèi)置外置可換
數(shù)據(jù)記憶組數(shù)	10組	10組	100組
存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量	最多10,000個(gè)	最多10,000個(gè)	最多100,000個(gè)
統(tǒng)計(jì)值	讀值個(gè)數(shù)、最小值、最大值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)方差、變異系數(shù)、組統(tǒng)計(jì)值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置)
校準(zhǔn)模式	出廠(chǎng)設(shè)置校準(zhǔn)、零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)、三點(diǎn)校準(zhǔn)，使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值
極限值監(jiān)控	聲、光報(bào)警提示超過(guò)極限
測(cè)量單位	μm、mm、cm；mils、inch、thou

EPK 700系列涂層測(cè)厚儀SIDSP探頭型號(hào)規(guī)格表

探頭特性	F1.5，N0.7，F(xiàn)N1.5		F2	F5，N2.5，F(xiàn)N5		F15
探頭特性	F型	N型	F型	F型	N型	F型
測(cè)量范圍	0-1.5mm	0-0.7mm	0-2mm	0-5mm	0-2.5mm	0-15mm
使用范圍	小工件，薄涂層跟測(cè)量支架一起使用		粗糙表面	標(biāo)準(zhǔn)探頭，使用廣泛		厚涂層
測(cè)量原理	磁感應(yīng)	電渦流	磁感應(yīng)	磁感應(yīng)	電渦流	磁感應(yīng)
分辨率	0.05μm		0.1μm			1μm
精確度	±（1μm+0.75%讀數(shù)）		±（1.5μm+0.75%讀數(shù)）			±（5μm+0.75%讀數(shù)）
重復(fù)性	±（0.5μm+0.5%讀數(shù)）		±（0.8μm+0.5%讀數(shù)）			±（2.5μm+0.5%讀數(shù)）
最小曲率半徑（凸）	1.0mm		1.5mm			5mm
最小曲率半徑（凹）	外置探頭7.5mm，內(nèi)置30mm		外置10mm，內(nèi)置探頭30mm			外置25mm，內(nèi)置30mm
最小測(cè)量面積	Φ5mm		Φ10mm			Φ25mm
最小基體厚度	0.3mm	40μm	0.5mm	0.5mm	40μm	1mm
測(cè)量速度	連續(xù)模式下測(cè)量速度每秒20個(gè)讀數(shù)，單值模式下最大測(cè)量速度每分鐘70個(gè) 探頭內(nèi)部32位信號(hào)處理（SIDSP）