輻照度計(jì) - 紫外輻照計(jì) 型號/圖片

美國ILT2400輻照計(jì)SED033/QNDS2/W探頭太陽輻射測量100倍衰減濾光片

美國International Light ILT2400及SED033/QNDS2/W輻照度測量系統(tǒng)用于太陽和太陽模擬器輻射測量，探頭響應(yīng)波長200-1100nm，傳感器安裝100倍衰減濾光片，讀數(shù)范圍6e-7 W/cm2~10W/cm2，帶美國NIST可溯源校準(zhǔn)和證書。

International Light ILT2400輻照計(jì)XSD340AT7探頭405nm紫外線UV固化

美國ILT2400輻照計(jì)配合XSD340AT7探頭可用于測量320~475nm波段、中心波長405nm的輻照度，量程8e-6至60W/cm2，可用于高強(qiáng)度曝光機(jī)UV固化工藝測量，以及光阻劑測量、3D打印等監(jiān)測應(yīng)用。

Lutron路昌UVA-365紫外輻照計(jì)365nm波長輻射照度199900uW/cm2

臺灣路昌Lutron UVA-365紫外線輻照計(jì)用于365nm波長紫外線測量，199uW/cm2、1.99mW/cm2、19.9mW/cm2三檔量程，精度2%，微電腦電路保證高精度，帶補(bǔ)正濾光鏡的專用探頭，是專業(yè)高品質(zhì)UVA照度表。

美國ILT2400輻照計(jì)SED005/UVF/A313探頭UV LED能量計(jì)350-400nm

International Light ILT2400輻照計(jì)及SED005/UVF/A313探頭專門為提高UV LED曝光機(jī)測量系統(tǒng)精確度而設(shè)計(jì)，在UV固化作用光譜350~400nm區(qū)域提供更均勻的響應(yīng)，輻照度測量范圍0.05μW/cm2~800mW/cm2，可添加峰值波長的PIR校準(zhǔn)過濾片，帶美國NIST可溯源ISO17025認(rèn)證校準(zhǔn)報告。

美國ILT2400+XSD005UVF UVLED輻照計(jì)350-410nm固化曝光測量

國際光學(xué)International Light ILT2400+XSD005UVF輻照計(jì)探頭具有平坦一致性的光譜曲線，該系統(tǒng)適用于監(jiān)測UV LED固化曝光能量強(qiáng)度及時間，在UV固化的關(guān)鍵區(qū)域350-410nm波長提供更均勻的響應(yīng)，以手持式的價格提供研究級的質(zhì)量。

路昌UVA-365SD紫外線輻照計(jì)365nm波長SD卡數(shù)據(jù)存儲

路昌Lutron UVA-365SD紫外照度計(jì)中心波長365nm，紫外線光濾鏡及感應(yīng)器，配有金屬UVA探棒，專業(yè)UVA光測量，UVA-365SD照度計(jì)為UVA-365升級版，新增SD卡記錄功能實(shí)時數(shù)據(jù)儲存，滿足廣大用戶現(xiàn)場測試數(shù)據(jù)記錄等要求。

LS128曝光機(jī)輻照計(jì)PCB印刷線路板光阻劑340nm~420nm能量計(jì)

LS128 UV能量計(jì)適用UV LED光源的光強(qiáng)度、能量、溫度的測量，光譜范圍340nm-420 nm，能量范圍999999mJ/cm2，功率范圍20000 mW/cm2，同時測量溫度和功率，并能顯示過程曲線，應(yīng)用于PCB線路板曝光機(jī)測量。

以色列OPHIR L50(300)A-IPL光功率探頭30mW~300 W

以色列Ophir L50(300)A-IPL激光功率計(jì)探頭中功率熱電堆探頭用于美容IPL光測試，功率范圍400mW-300W，靈敏度30 mW-300 W，能量范圍120mJ-300J，提供光纖適配器、BNC模擬輸出等附件。

Ophir PD-300激光功率計(jì)探頭200nm至1800nm光譜測量

以色列Ophir PD-300系列光電二極管傳感器高靈敏度10pW-3W，波長范圍覆蓋從200nm至1800nm，適合于HeNe激光器、半導(dǎo)體激光器、DPSS激光器、HeCd激光器等小功率激光測量，自動本底減除功能，從而使測量不受室內(nèi)燈光的影響。

美國ILT2400輻射計(jì)UV固化光刻紫外殺菌及3D打印曝光輻照度測量

International Light ILT2400輻射計(jì)支持多種光測量應(yīng)用如UV紫外殺菌燈、激光/紅外線光、UV固化、掃描激光安全、3D打印、通用光測量等，測量速度達(dá)100μs，可切換lux,W/cm2, cd/m2測量單位，精度7%。