內(nèi)阻/歐姆電阻計 型號/圖片

日置hioki 9772針型測試線電池測試儀探頭

日置hioki 3554電池測試儀\HIOKI-3555電池測試儀選配高精度針型測試線9772線長1.9m，2叉探針，探頭之間80cm (紅）140mm (黑，最長55cm)。

日本HIOKI日置RM3548微電阻計便攜式3mΩ/0.1μΩ搭接阻值測量

日置HIOKI RM3548微電阻計采用直流法測量0.0μΩ~3.5MΩ電阻，最小分辨率0.1微歐，精度0.02%，僅需將探頭接觸被測物，即可簡單記錄多達(dá)1000個數(shù)據(jù)，使用溫度探頭可采集溫升實驗數(shù)據(jù)，便攜式設(shè)計。

日置HIOKI RM3545微電阻計0.006%超高精度0.01μΩ微歐計

日置微電阻計RM3545、RM3545-01、RM3545-02可測范圍0.00μΩ~1200MΩ，高速支持自動化判別，從測量開始到判斷輸出最快2.2ms，最小分辨率0.01μΩ，基本精度0.006%，支持超高精度及多通道4端子20ch。

日置HIOKI IR3455-30高壓絕緣兆歐表5000V/10TΩ電阻

日本日置IR3455-30高壓兆歐表具有250V~5000V的試驗電壓范圍及最大10TΩ電阻量程，使用溫度傳感器選件可測量-10.0～70.0℃，試驗電壓從250V~5000V，最小25V步進設(shè)置，適用于高電壓設(shè)備的變壓器、電纜、馬達(dá)等絕緣電阻測試。

日本HIOKI RM3545-02微歐計0.01μΩ接Z3003掃描單元低阻抗多點測量

日置HIOKI RM3545-02微歐計電阻測量范圍0.00μΩ～1200.0MΩ，最小分辨率0.01μΩ，6位半顯示，基本精度0.006%，測試電流1μA~1A，接Z3003多路掃描器單元可實現(xiàn)10~40通道測量，應(yīng)用于手機屏幕、網(wǎng)絡(luò)電阻、轉(zhuǎn)向開關(guān)、三相馬達(dá)線圈等需要高精度低阻抗多點測量需求。

HIOKI 9454微歐計調(diào)零板毫歐表電阻零位校正板

日置HIOKI 9454調(diào)零板用于L2100、9771及9465-10針型測試線的調(diào)零，配合BT3562電池測試儀、BT3554內(nèi)阻測試儀、RM3548微歐計使用，滿足高精度電阻測試應(yīng)用。

美國福祿克Fluke 1550C數(shù)字兆歐表5000V高壓絕緣電阻測試儀

Fluke 1550C絕緣電阻測試儀/數(shù)字絕緣兆歐表提供數(shù)字絕緣測試最高可達(dá)5000V，非常適合用于測試各種高電壓設(shè)備，包括開關(guān)設(shè)備，電動機，發(fā)電機和電纜，可測量高達(dá) 2T? 的電阻。

HIOKI BT3562-01電池內(nèi)阻測試儀GP-IB模擬輸出可擴展多路通道掃描

HIOKI日置電池測試儀BT3562-01配備GPIB通訊接口及模擬輸出，可集成在自動測量產(chǎn)線中，用于內(nèi)部阻抗及電池電壓同時測量，響應(yīng)時間10ms，量程3mΩ~3000Ω、6V/60V，精度±0.5%、0.01%，適用從大型單體電池包到紐扣電池的高速、高精度檢測及評估。

日置HIOKI 3561-01電池測試儀測鋰電內(nèi)阻電壓帶GPIB接口

日本HIOKI日置3561-01電池測試儀用于手機、筆記本電腦等小型鋰電池的出貨及驗收檢測，能夠同時高速檢查內(nèi)部電阻(IR)和電壓(OCV)，量程分辨率300mΩ/10μΩ、20V/0.1mV，配置GPIB通訊接口可用于高速系統(tǒng)測試生產(chǎn)線中，獨立判斷內(nèi)阻和電壓及輸出結(jié)果。

HIOKI日置電池測試儀SW1001機架和SW9001多路掃描模塊20通道

日本HIOKI SW1001掃描模塊機架與SW9001 2線/4線式多路掃描模塊（20路/10路）組合，搭配日置電池測試儀、直流電壓計或阻抗測試儀一起使用，可安裝3個模塊實現(xiàn)30~60通道多組電池同時測量，檢查阻抗、內(nèi)部電阻與焊接電阻、OCV與外部電位等參數(shù)數(shù)據(jù)。